为减少用户在产品开发过程中对DSP外设接口程序进行整合的难度，创龙科技提供已对各DSP主要外设接口实现底层初始化的RTOS综合功能测试IFD(Integrated Function Demo)案例程序。用户可基于此IFD案例程序模板进行开发，加快项目研发进度。
IFD案例位于产品资料“4-软件资料\Demo\DSP_Demo\”目录下，主要功能为EEPROM、NOR FLASH和NAND FLASH等存储设备读写速率测试，以及SRIO、PCIe、EMIF16和Ethernet等外设接口测试，详细说明见下表。
表 1
| 设备/接口 |
测试内容 |
读写速率 |
| EEPROM |
数据读写速率及正确性 |
write：0.02MB/s |
| NAND FLASH |
数据读写速率及正确性 |
write：0.48MB/s |
| NOR FLASH |
数据读写速率及正确性 |
write：0.30MB/s |
| DDR |
数据写入速率及正确性 |
write：33321Mbps |
| EMIF16(FPGA) |