• X射线的性质


    电磁谱(Electromagnetic Spectrum)按波长从大到小排列:无线电波、微波、红外线、可见光、紫外线、X射线、γ射线;
    X射线是一种电磁辐射(electromagnetic radiation),与可见光本质一样,但波长不同;
    X射线(X-ray)波长常用单位: 1 n m = 1 0 − 9 m 1 nm = 10^{-9} m 1nm=109m 1 A ˚ = 0.1 n m 1 Å = 0.1 nm 1A˚=0.1nm
    X射线波长在 0.5 − 2.5 A ˚ 0.5-2.5 Å 0.52.5A˚

    经典理论中,电磁辐射被看作波, E = A e i w t − ϕ , ϕ = ν t , w = 2 π ν E = A e^{iwt - \phi}, \phi=\nu t, w = 2\pi \nu E=Aeiwtϕ,ϕ=νt,w=2πν
    量子理论中,电磁辐射被视为光子的传播, E = h ν , λ = c / ν E=h\nu, \lambda = c/\nu E=hν,λ=c/ν,光速 c c c,普朗克常数 h h h

    X射线谱(X-ray Spectrum):射线强度随波长分布的关系。
    电子与靶物质相撞时,损失能量,产生X射线。
    电子动能大部分转化为热,低于 1 % 1\% 1%转化为X射线
    电子动能 E K = e V = m v 2 / 2 E_K = eV = mv^2/2 EK=eV=mv2/2

    连续谱(Continuous Spectrum):电子撞击靶物质时偏折减速,产生的辐射(韧致辐射,bremsstrahlung,braking radiation, polychromatic radiation, continuous radiation,white radiation)

    连续谱的最短波长对应强度为0,表示电子在一次撞击时损失了全部动能
    e V = h ν m a x eV=h\nu_{max} eV=hνmax
    λ m i n = c / ν m a x = h c / ( e V ) \lambda_{min} = c/\nu_{max} = hc/(eV) λmin=c/νmax=hc/(eV)

    连续谱X射线总强度 I = A i Z V m I = AiZV^m I=AiZVm
    管电压 V V V,管电流 i i i,比例常数 A A A,常数 m m m
    连续谱,随着波长增加,强度先增后减

    特征谱(Characteristic Spectrum):电子撞击靶物质时将其轨道电子击出产生空穴,靶物质高能量轨道上的电子跃迁到空穴,而产生的辐射;
    K层电子击出后,L层电子补位就称 K α K_\alpha Kα辐射,M层电子补位就称 K β K_\beta Kβ辐射,N层电子补位就称 K γ K_\gamma Kγ辐射;
    L能级又分为几个亚能级,迁跃到K层的电子只能从 L I I , L I I I L_{II}, L_{III} LII,LIII亚层过来,因此 K α K_\alpha Kα辐射有两种: K α 1 , K K α 2 K_{\alpha1}, K_{K_\alpha2} Kα1,KKα2,前者的强度是后者的两倍;
    K线辐射强度 I K = B i ( V − V K ) n I_K = Bi(V-V_K)^n IK=Bi(VVK)n,K层激发电压 V K V_K VK
    高强度窄K线使得X射线可以衍射
    https://syyy.scnu.edu.cn/xrd/BOOK01/Book1-104.htm

    莫塞莱定律(Moseley’s law):特征谱线的频率随发射体原子序数的增加而增大
    ν = C ( Z − σ ) \sqrt{\nu} = C(Z-\sigma) ν =C(Zσ) C , σ C, \sigma C,σ为常数

    X射线进入物质,一部分被透射,一部分被吸收;
    强度与距离成正比, I ∝ x I \propto x Ix
    − d I / I = μ d x -dI/I = \mu dx dI/I=μdx,积分后得 I x = I 0 e − μ x I_x = I_0 e^{-\mu x} Ix=I0eμx
    质量衰减系数(Mass Absorption Coefficient) μ / ρ \mu / \rho μ/ρ
    元素质量分数(weight fractions of elements):元素质量与物质质量之比;
    多元素物质的质量衰减系数 μ / ρ = ∑ w i ( μ / ρ ) i \mu / \rho = \sum w_i (\mu / \rho)_i μ/ρ=wi(μ/ρ)i
    吸收限(absorption edge):击出原子内层电子的最低能;
    在吸收限之间,衰减系数满足: μ / ρ = k λ 3 Z 3 \mu/\rho = k \lambda^3 Z^3 μ/ρ=kλ3Z3
    利用吸收限可以过滤X射线

    X射线管包括:电子源、高加速电压、金属靶;
    X射线管分为:气体管(过时)、灯丝管

    英文术语

    Industrial Radiology:射线无损检测技术,简称射线检测
    Radiography:射线照相检测技术
    Radioscopy:射线实时成像检测技术
    Tomography:射线层析检测技术
    Digital Radiography缩写DR:数字射线照相术
    Computed Radiography 或 Computed Radiology缩写CR:成像板射线照相检测技术

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