单片非晶磁性测量系统典型磁参数的不确定度与重复性

典型磁参数的不确定度与重复性

单片非晶磁性测量系统测量条件 ：

1. T：( 23 ± 5 )℃，F：50 Hz / 60 Hz
2. 测试开始之前，应进行30分钟以上的预热并对样品退磁。
3. 测量次数：10次，试样放置于测定框内，在10次测量中，不应再移动。
4. 数据分析：取10次测量的最大值或最小值减测量平均值除以测量平均值，以二者中的最大值代表重复性。
5. 备注④：P1.0指磁通B为1.0 T时的比总损耗值，以此类推。
6. 备注⑤：B25 指磁场H为25 A/m时的磁通密度值，以此类推。