这里小编向大家推荐三款软件
Xpspeak、Avantage以及我们最常用的origin
1、XPS样品制备：
粉末制样
压片
粘到双面胶带上
分散到挥发性有机溶剂中，形成悬浊液滴到硅片等固体基片、金属箔或滤膜、海绵等基底上
纤维细丝（网）样品
缠绕或压在架子或回形针上，或样品台的孔中 央，分析区域内纤维丝悬空，避免基底元素干 扰分析结果；
包裹在有孔的铝箔中，用小束斑XPS分析孔内样品；
液体、膏状样品
滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、树 脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥
2、H和He为什么不能测XPS
主要原因有三点：
1) H和He的光电离界面小，信号太弱；
2) H1s电子很容易转移，在大多数情况下会转移到其他原子附近，检测起来非常困难;
3) H和He没有内层电子，其外层电子用于成键，H以原子核形式存在。所以用X射线去激发时，没有光电子可以被激发出来。
3、什么是荷电校正，如何进行荷电校正
XPS分析中，样品表面导电差 样品表面导电差，或虽导电但未有效接地。此时，当X射线不断照射样品时，样品表面发射光电子，表面亏电子， 出现正电荷积累（XPS中荷正电），从而影响XPS谱峰，影响XPS分析。在用XPS测量绝缘体或者半导体时，需要对荷电效应所引起的偏差进行校正，称之为“荷电校正”。
最常用的，人们一般采用外来污染碳的C1s作为基准峰来进行校准。以测量值和参考值(284.8 eV)之差作为荷电校正值(Δ)来矫正谱中其他元素的结合能。
具体操作：1) 求取荷电校正值：C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ；2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正：将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ，即得到校正后的峰位（整个过程中XPS谱图强度不变）。
将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。
4、磁性元素对XPS有没有影响
有，磁性样品最好进行退磁、消磁处理
也可在测试中采用磁透镜模式或静电透镜模式
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