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STM32Cube 开发之读写内部Flash--电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据--STM32或者GD32F处理器
STM32Cube 开发之读写内部Flash–电源项目ADC采样校准系数存储-实现掉电读取数据
一、需求介绍
1.1 在进行电源项目开发中，输入与输出的电压电流经过硬件电路分压或者差分变换后，将低压的电压信号给到单片机如STM32F1系列单片机的ADC采样端口，如下图
未完待续！
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- 原文地址：https://blog.csdn.net/AQRSXIAO/article/details/133357510