1505_TC275参考手册阅读笔记_调试系统

全部学习汇总： GitHub - GreyZhang/g_TC275: happy hacking for TC275!

继续看参考手册中芯片介绍的部分，这一次看一下调试系统。其实，在之前看其他的文档的时候这部分已经简单接触过了。

图1笔记的主要知识点：

1. trace的功能需要ED芯片做支持；
2. 调试模块会用到芯片的DMA来达到最快的访问速度。

图2的笔记信息：

1. 关于断电的数目，硬件断点数目是很少的，软件断点限制少得多。不过，二者在使用上会有什么差异，这个我不是很清楚。可能这是一个比较通用的知识，在我接下来的学习计划表中增加一下后续确认。
2. 外设的触发指令集以及trace信息，都可以提供向量模式。这一点感觉上还是有些没有获知到主要的说明点。
3. 调试信号的反馈不一定非得由工具查询来获取，也可以由MCU主动上报。

图3的主要知识点：

1. 不管是DAP还是JTAG，时钟信号都是来自于工具的，不是MCU产生的。
2. 有些MCU支持通过CAN替代DAP的模式来进行调试。
3. 关于CAN的调试方式，本质上来说还是DAP，但是可能速度上慢一些。

图4这一页笔记中，部分注意点如下：

1. 我现在手头的开发板是TC275，这样，之前看过的的基于CAN的调试方式应该是不支持的。
2. 另外，JTAG都有一个ID信息，不知道劳特巴赫判断MCU类型是否是通过类似的功能？
3. 相比于JTAG，DAP各方面其实是更有优势的。主要的体现点：PIN少、数据可靠、速度快。

图5这一页笔记中能够看到的信息，之前在一个DAP介绍的资料中基本上都看过了，这部分直接跳过不看了。

图6这一页笔记中的几条知识点：

1. 调试系统的本质其实就是对特定地址的存储进行读写，这是调试系统发挥作用的最主要的方式。
2. 我很希望再找到什么资料能够全面了解一下miniWiggler + DAS能够实现的调试功能，这样我手头的开发板就可以做这样的尝试。不过，目前看起来，我用到的调试功能似乎都很依赖于IDE。如果能够做到跟IDE的解耦，以后调试会增加更多的手段。

以上的信息就是TC275种关于调试系统的大概的描述，还是看到了一些全新的知识点的，但是很可惜有些让我感兴趣的功能在我现在的这个MCU上没有。